安捷伦科技公司（NYSE：A）日前宣布出版《X 参数：非线性射频与微波元器件的表征、建模和设计》，该书阐述了安捷伦突破性的非线性 X 参数测量、建模和仿真技术。该书由剑桥大学出版社出版，包含多个应用实例，是一本向读者介绍 X 参数理论的权威指南。

该书作者为安捷伦科学家与工程师 David E. Root、Jan Verspecht、Jason Horn 和 Mihai Marcu，他们是 X 参数理论的原创发明人和开发者，并且这一强大理论被应用于非线性射频与微波元器件和系统。同时，该书的作者也是工业界和学术界公认的建模、仿真和测量科学领域的权威专家。

本书为 X 参数技术奠定了基础，并通过实际案例为读者提供了有用的概算方法。这些概算方法显著降低了非线性元器件和系统的测量、建模和设计复杂程度。本书还讲解了如何利用 X 参数解决在非线性射频与微波工程中的复杂难题。

此外，本书还包括实际案例分析、标准符号和表示方法的定义、详细推导（参见附录）、练习题及解答。该书内容丰富，为那些希望了解射频与微波工程学最新发展趋势的研究人员、工程师、科学家和学生提供了权威参考。