致力于开发新型辐射检测器和系统技术的RMD仪器公司日前宣布，将在上海即将举办的NEPCON展会在其代理商凯能自动化设备有限公司的1C05号展台上，展示其LeadTracer-RoHS XRF系统。NEPCON上海展会将于2009年4月21-24日在上海光大会展中心举办。

这一系统是XRF分析技术的重大创新和进步，是唯一专门为电子行业设计的XRF系统，为满足RoHS指令提供了快速、准确、便于携带的筛选结果。

假冒或劣质元件是电子行业所面临的一个重大问题。假冒的供应商越来越有经验，他们生产这些元件时使用的技术，如激光腐蚀技术，几乎使这些元件无法从合格的元件中筛选出来。LTRSync +软件功能充分利用了LeadTracer出众的K层X射线，可以帮助用户将可能不合格的元件识别出来。

LeadTracer-RoHS XRF系统采用独特的方法，因为它在很短的时间内分析整个元器件，而不是简单地执行表面分析。这加快了满足RoHS筛选要求的速度，改善了质量控制过程的整体吞吐量。LeadTracer-RoHS能够分析整个能量频谱，消除了元器件假不合格的可能，而这些元器件本身是可以进入制造流程的。

RMD已经在其LeadTracer-RoHS XRF系统中增加了一种新的焊接分析和识别功能，可以在几分钟内准确地识别所有焊接合金。这在对组装成品进行返工或维修时极有裨益。此外，这种新资源准确地执行焊罐分析，允许用户追踪工艺变化，这特别适合SAC合金，在这种合金中，Cu和Pb成分的提高(由于元器件拖延)不仅会影响焊接工艺，还会影响RoHS满足情况。

另外，焊接分析和识别功能还可以处理生产链中潜在的薄弱环节，特别是在双合金制造业务中，为用户带来了进一步好处。它适用于非连续生产线上双面组装的电路板；电路板离开生产线进行检测和分析；回流焊电路板转入波焊或选择性焊接；电路板由于生产线紧张而分成两批；电路板从生产领域转入返工领域；因缺陷少部件或元件回收而保留电路板；元器件保留在返工领域；来自拒绝贴装盘的元器件。

LeadTracer-RoHS XRF系统采用独特的方法，因为它在很短的时间内分析整个元器件，而不是简单地执行表面分析。这加快了满足RoHS筛选要求的速度，改善了质量控制过程的整体吞吐量。LeadTracer-RoHS能够分析整个能量频谱，消除了元器件假不合格的可能，而这些元器件本身是可以进入制造流程的。

使用不兼容的元器件，如在无铅工艺中使用含铅元器件，会导致焊罐污染，其代价非常高，是制造商所不愿意看到的。在工艺中消除不兼容元器件节约了时间和资金，改善了生产线产能。此外，部件一致流动减少了电子组装中使用的机器的维护和维修工作。RoHS指令限制在电子器件中使用某些物质，在筛选工艺和实现工艺中产生了大量的挑战。LeadTracer-RoHS采用创新方法及增强检测功能，为业内迎接各种RoSH指令挑战提供了所需的筛选工具。

LeadTracer-RoHS XRF系统带有一个样本准备台，在开发时考虑了最终用户的需求。样本准备台采用人体工程设计，提供了最优的简便易用性和准确性，并配备RMD仪器公司独有的快速断开把手，使得用户能够作为台式设备操作手持的便携式LeadTracer-RoHS。