型号：Selective 3D AOI
strong 可检查平面器件的共面性问题
#8226; 采用结构照明方式
#8226; 对诸如“mirror”BGAs的镜面对象以及变形表面的测量特别有效
#8226; 可对BGA下部器件进行检查，例如 ?1005器件（高度为0,175mm）
#8226; 缺陷检测：100％可重复，无误判
#8226; 根据需求，及时利用器件库进行器件的三维处理工作
公司：Vi Technology犕罚簑ww.vitechnology.com
