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Multitest的DURA® Kelvin荣膺2010年全球科技大奖
点击:9524来源: fbe-china.com作者:EM Asia China
时间:2019-11-22 10:20:57

2011年1月:Multitest宣布其DURA Kelvintrade;系列荣膺元器件类全球科技大奖。

颁奖仪式在国际表面贴装技术协会会议(SMTA International)期间举行,地点是佛罗里达州的华特迪士尼世界天鹅和海豚度假村(Walt Disney World Swan and Dolphin Resort )。 评委会注重在使用寿命和清洁周期方面,测试座在最终测试阶段对成本的巨大影响。尤其在高并行测试配置时,清洁频率是测试成本(COT)主要成因。主要挑战是提供测试解决方案,克服焊锡转移/扩散及磨损等产生的问题,从而实现最低清洁需求和和最长使用寿命。

Multitest的DURA Kelvin系列提供基于实验方法设计的最优参数。最优参数包括:接触力、接触刮擦位移、测试针几何结构、弹簧涂层以及表面光洁度。另一个重要性能标准是测试针的使用寿命是否在1百万次以上。

DURA Kelvin通过减少测试座清洗造成的停机时间,改善测试设备的工作效率。此类改善虽基于同时测试位的数量,但即使在单测试位时,改善程度依然达百分之五。以四同测位配置为例,客户能够使工作效率提高大约20%。这对于整个测试成本/经营成本来说,是一项巨大改善。全球科技大奖计划诞生于2005年,是对电子表面贴装领域的卓越产品进行表彰的年度活动。基于最佳创新科技进步的顶级产品由资深业内专家组评选而出。

关于MultitestMultitest (总部位于德国罗森汉姆)是面向半导体厂商提供测试分选设备的世界领导制造商之一。Multitest销售测试分选机、测试座和ATE印刷电路板。公司在全球拥有700多名员工,在北美、新加坡、马来西亚、菲律宾、台湾、中国、泰国设有办公室和分支机构,为世界各地的客户提供服务。www.multitest.com。

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