检测系统: KIC MVP 智能测温技术

当前位置：首页 > 技术前沿

点击：4212来源: fbe-china.com作者：EM Asia China
时间：2019-11-21 17:22:48

KIC的MVP设计简单、易于操作,不仅可以代替每天的日常测试,同时也可以将每天的测试数据制作出SPC图表, 并计算出CPK,避免设备整天停工进行CPK值的测试计算.

上一篇：Kester在苏州开设新设施下一篇：半导体封测主流技术及发展方向分析

> 相关阅读：

> 评论留言：

-- 关于我们 -- 联系我们 -- 会员服务 -- 人才招聘 -- 平台服务