Multitest的老化测试板（BIB）业务始于2010年，充分发挥其在ATE板设计、制造和组装方面的能力及其测试座和测试方面的技术专知。迄今为止，Multitest已经在20家客户取得了资格，其中包括大型国际IDM。应用范围从4G无线产品、航空航天应用、系统单晶片到微处理器。Multitest老化产品小组经验丰富。以公司深厚专业知识为基础，Multitest能够提供足以应对当今挑战的领先老化测试解决方案，比如更短的老化时间或智能老化测试。除了硬件之外，Multitest还为客户提供完整的过程和应用支持。凭借公司的最终测试技术优势，Multitest能开发针对老化测试的定制解决方案。有关Multitest老化测试产品的更多信息，请访问www.multitest.com/burn-in。
